검출력은 공정이 변화했을 때 관리한계선 밖으로 벗어나는 확률이다.

3σ법 관리도에서는 제2종 과오가 극히 작아지도록 만들어졌다.

공정능력의 변화나 공정의 표준편차의 변화는 R관리도의 OC 곡선을 사용한다.

시료군의 크기(n)가 커지면 관리도 OC 곡선은 경사가 급해진다.