석면(X선 회절기법) 측정을 위한 분석절차 중 시료의 균일화에 관한 내용(기준)으로 옳은 것은?
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석면(X선 회절기법) 측정을 위한 분석절차 중 시료의 균일화에 관한 내용(기준)으로 옳은 것은?
정성분석용 시료의 입자크기는 0.1 ㎛ 이하로 분쇄를 한다.
정성분석용 시료의 입자크기는 1.0 ㎛ 이하로 분쇄를 한다.
정성분석용 시료의 입자크기는 10 ㎛ 이하로 분쇄를 한다.
정성분석용 시료의 입자크기는 100 ㎛ 이하로 분쇄를 한다.
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