전도성 시험체 내부에 발생한 유도전류를 이용한다.

와전류 분포의 변화를 시험코일의 임피던스 변화로 결함을 찾아낸다.

와전튜 탐상검사는 강자성체나 비자성체인 전도체에 적용할 수 있다.

시험체 표면과 시험코일과의 거리 변화를 이용하여 결함의 형상 및 크기를 알 수 있다.