시험품 표면에 벌어져 있는 흠이라도 검출이 안될 경우도 있다.

대형 장치를 사용하지 않고도 탐상할 수 있는 방법도 있다.

시험품의 표면거칠기의 영향은 일반적으로 받지 않는다

다공질 재료의 탐상은 일반적으로 곤란하다.