시험체가 전도체이어야만 측정할 수 있다.

표면 및 표면 근처의 결함을 찾을 수 있다.

결함모양이 표면에 나타나므로 육안으로 관찰할 수 있다.

사용되는 자분은 시험체 표면의 색과 잘 대비를 이루어야 한다.