시험체 심부의 결함을 검사할 수 있다.

시험체는 강자성체가 아닌 경우에만 적용할 수 있다.

전극이 접촉되는 부분에서 국부적인 가열 또는 아크로 인하여 시험체 표면이 손상될 우려가 있다.

균열과 같은 선 모양의 결함은 검출할 수 없지만 일반적으로 핀홀과 같은 점 모양의 결함 검출 능력은 우수하다.