표면에 존재하는 균열을 검출할 수 있다.

표면으로부터 1∼2mm 의 깊이에 존재하는 균열 및 결함을 검출할 수 있다.

비자성체 시험편의 내부 결함탐상에 적합하다.

핀홀같은 깊숙한 내부의 점상 결함의 검출에는 적합하지 않다.