시험체 표면의 라미네이션 등 초음파탐상으로 검사가 어려운 결함을 검출하는 목적

부도체에 관계없이 표면의 결함을 검출하는 목적

시험체 내부의 기공 및 용입부족을 검출하는 목적

시험체의 표면 및 표면부근에 있는 균열, 기타 흠을 검출하는 목적