일정한 자속밀도를 유지하므로 전자석보다 검출능력이 높다.

시험체에 대한 자속의 유입 깊이가 교류에 비해 깊으므로 내부에 있는 결함 탐상에 가장 적합하다.

교류 전자석을 이용하는 자화기와 동일하게 시험면에 대한 자속밀도가 높아 표면 결함의 검출이 우수하다.

시험체의 두께가 두꺼울수로고 시험면의 자속밀도가 급격히 감소되어 결함의 검출능력은 저하된다.