자분탐상시험시 시험품의 탈자가 필요하지 않는 경우는?
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자분탐상시험시 시험품의 탈자가 필요하지 않는 경우는?
연속법으로 검사할 때
시험품에 상자성체일 때
시험품을 검사한 후 고온 열처리할 때
시험품이 작을 때
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자분탐상시험시 시험품의 탈자가 필요하지 않는 경우는?
연속법으로 검사할 때
시험품에 상자성체일 때
시험품을 검사한 후 고온 열처리할 때
시험품이 작을 때