프로드법으로 자분탐상검사를 실시할 때 얇은 납판이나 구리망사를 전극밑에 대고 시험하는 주된 이유로 맞는 것은?
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프로드법으로 자분탐상검사를 실시할 때 얇은 납판이나 구리망사를 전극밑에 대고 시험하는 주된 이유로 맞는 것은?
자계의 강도를 증가시키기 위함이다.
시험체에 열을 높여 줌으로써 자화를 용이하게 한다.
시험체의 소손을 방지하기 위함이다.
시험체에 반자계를 억제하기 위함이다.
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