자분탐상검사시 잔류법으로 쉽게 검사할 수 있는 경우는?
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자분탐상검사시 잔류법으로 쉽게 검사할 수 있는 경우는?
시험품의 모양이 단순할 때
시험품의 전도도가 높을 때
시험품의 보자력이 높을 때
시험품의 투자율이 작을 때
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