석면의 측정방법 중 X선 회절법에 관한 설명으로 틀린 것은?
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석면의 측정방법 중 X선 회절법에 관한 설명으로 틀린 것은?
값이 비싸고 조작이 복잡하다.
1차 분석에 사용하며 2차 분석에는 적용하기 어렵다.
석면포함 물질을 은막 여과지에 놓고 X선을 조사한다.
고형시료 중 크리스타일 분석에 사용한다.
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